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有限会社 ケイワンは光学薄膜設計ソフト" Optilayer"の日本販売代理店です。

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FAQ (3/4)FAQ

実験データをOptiCharにインポートして fitting Window を確認したところ、データの値がゼロとなっています。黒線で示される推定透過率、および測定データのどちらもほぼゼロの状態です。何が間違っているのでしょうか。

透過率の表示単位の設定が間違っていないか確認をお願いします。おそらく、OptiCharのR/Tの単位が%で設定されているのではないかと思われます。そして、測定されたデータの透過率は絶対単位が使用されているのではないでしょうか。もしそうならば "General Configuration"の"Units"タブを開き、T/Rの単位を"%"から"0-1"に変更して再度データをインポートして下さい。特定のデータ(バリアン、パーキンエルマー、日立、X/Yデータ)は、インポート時に設定の変更をしなくても自動的に設定されるようになっています。

可視域における色特性の指定に加え、近赤外線領域における透過率の指定をしたいのですが、2種類のターゲットを同時に指定することは可能ですか。

もちろん可能です。OptiLayerでは、さまざまなターゲットを組み合わせて計算することが可能です。たとえば、色特性と一般的な光学特性(本質問のケース)、色特性と積分値、あるいは積分値と一般的な光学特性等、それぞれのターゲットを希望する波長範囲で指定可能です。最新バージョンでは、それぞれのターゲットに重み係数を指定してバランスを取ることもできます。詳しくは http://www.optilayer.com/flexible-merit-function をご覧下さい。

リバースエンジニアリングを使用して高屈折材料の屈折率を補正しようと考えています。OptiReの"Indices Correction"の"Index Drift"は、"constant drift", "linear drift", "exponential drift"が選択できます。この中の"constant drift"は屈折率のオフセットと考えているのですが、その理解で合っていますか。

合っています。ここでのIndex driftは屈折率のオフセットのことです。同じ内容でも異なる2つの呼び方があります。このオプションを選択することはリバースエンジニアリングの手順を選択したことになります。OptiREは、屈折率とオフセットとるモデルとなる屈折率を探します。詳しくは、http://www.optilayer.com/products-and-services/optire/indices-corrections もご覧下さい。

OptiLayerの初心者です。"Needle Optimization AUTO"を使って設計したのですが、いくつかの薄い層が設計に含まれています。それらの層を取り除くと設計結果が悪化してしまいます。何か間違っていますか。

OptiLayerには、薄い層を自動的に取り除く二つのオプションがあります("Thin Layer Removal"および"Design cleaner")。もちろん薄い層を除去すると設計結果は悪化しますが、これらのオプションを使用するとメリット関数を制御して再最適化することができます。薄い層を除去するためにより進んだ方法を試すこともできますので、その場合は、次のWebサイトの資料をご覧下さい。
http://www.opticsinfobase.org/ao/abstract.cfm?URI=ao-51-30-7319&origin=search

多層膜を成膜し、320nm~1500nmの範囲でT/R(透過/反射)を測定して成膜後の特性評価をOptiREで行いました。"Fitting Window"を見ると、320nm~400nmの範囲のフィッティングが非常に悪く、400nm~800nmの範囲では問題がありませんでした。このため"Refractive index Window"を確認すると、320nm~400nmの範囲の屈折率が一定となっていました。

もし、320nm~400nmの屈折率が一定となっているのでしたら、屈折率の設定が400nm~開始されていることが原因と思われます。この点の確認をお願いします。屈折率分散が必要な波長範囲で設定されていない場合、OptiLayerは設定外の範囲においては、屈折率が設定されている波長範囲に隣接する屈折率の値を用いて計算します。本質問の場合、320nm~400nmの範囲は400nmの屈折率と同じ値を使用します。モデルとなるデータを実験結果に合わせるためには、計算する波長範囲全体で屈折率を設定しておかなければなりません。そのためにOptiCharを使えば、320nm~850nmの波長範囲で単層膜の屈折率を決定することができます。下記のWebサイトもご参照下さい。
【屈折率の決定】
 http://www.optilayer.com/products-and-services/optichar/determination-of-optical-constants
【OptiChar】
 http://www.optilayer.com/products-and-services/optichar

1/4λ層のみを使って狭帯域フィルターを設計する必要があります。OptiLayerでは可能ですか。

可能です。その目的のためにはWDMオプションが使用できます。詳しくは下記のWebサイトをご覧下さい。
http://www.optilayer.com/special-design/wdm-design-options


二枚のガラスに貼り合わせたビームスプリッターを設計しなければなりません。この場合、OptiLayerではどのように指定すれば良いですか。

ガラスを基板として読み込み、入射媒質としてもガラスを読み込んで下さい。

色度指定コーティングで問題をかかえています。ターゲットとする色度はLAB表色系で指定されており、光源はD65です。私はコーティングの色度を計算する自作のプラグラムを作成しており、その自作プログラムとOptiLayerで多層膜(100nm, 200nm、膜屈折率2.35, 1.45、基板屈折率1.52)の計算結果を比較しました。私のプログラムによる計算では、反射光(垂直入射)のLAB色度はa*=16.39, b*=18.06, L*=45.06の結果となりましたが、OptiLayerではa*=21.11, b*=21.32, L*=45.73という異なった結果となりました。私のプログラムには間違いがないことを確認しており、用いた光学定数(材料と基板の屈折率)はどちらも同じです。どこに問題があるのでしょうか。

貴殿の自作プログラムではD65光源が使われておらず、OptiLayerの計算ではD65を使っていたためと思われます。実際に、OptiLayerで光源を読み込まずに計算すると、a*=16.39, b*=18.06, L*=45.06の結果になりました。光源のデータをD65にすれば、ご質問に書かれていたa*=21.11, b*=21.32, L*=45.73が得られます。

Woollam社製エリプソメーターのPsi, DeltaとR/Tのデータがあります。これらのデータを同じ測定ファイルに記録するのと、データを異なるファイルにインポートするのとでは、どちらが便利でしょうか。最初はPsi, DeltaとR/Tを分けて処理したいので質問しています。

どちらでも問題ありません。すべてのデータを一つのファイルにインポートするならば、"Modify Measurement"のオプションを使用して、たとえば特性評価をする前にR/Tデータを一時的に削除します。あるいは、データを別々に異なるファイルに保存しておき、すべて同時にフィッティングをしたい場合は、"Append to Loaded"オプションを使用してR/TのデータをPsi/Deltaのデータに追加して下さい。






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